30 января 2020 года в 10:00 в конференц-зале Дальневосточного геологического института ДВО РАН компании JEOL и Interactive Corporation (Япония) при участии регионального представителя ПТФ «Корпус» (Владивосток) проведут научно-практический семинар «Применение новой модели настольного сканирующего электронного микроскопа JCM-7000 с интегрированной системой элементного микроанализа».

Предлагаем провести исследование ваших образцов на настольном сканирующем электронном микроскопе JEOL. В случае заинтересованности просим до 22 января 2020 г заполнить нижеприведённую регистрационную анкету с обязательным кратким описанием ваших образцов (материал, размер, степень подготовки и т. д.) и прислать её на почту Этот адрес электронной почты защищён от спам-ботов. У вас должен быть включен JavaScript для просмотра.

Место проведения: Дальневосточный геологический институт ДВО РАН, г. Владивосток, проспект 100-летия Владивостока, 159, конференц-зал (остановка автобуса «Академическая», электрички «Чайка»).

Участие в семинаре бесплатное.  Участникам семинара выдаются сертификаты. Будем рады Вас видеть на семинаре!

Программа семинара