|
Применение новой модели настольного сканирующего электронного микроскопа JCM-7000 с интегрированной системой элементного микроанализа / 30 января 2020 г.
|
04 февраля 2020 |
Просмотров: 839
|
|
Семинар Springer «Get the most out of your Research» (Публикационная активность автора или как получать максимальную отдачу от своих научных исследований) / 27 мая 2019 г.
|
27 мая 2019 |
Просмотров: 785
|
|
Семинар компании Fritsch GbmH и Сибирского отделение компании Leco 6 апреля 2016 г.
|
06 апреля 2016 |
Просмотров: 962
|
|
Семинар «Современное оборудование для сканирующей электронной микроскопии и для создания и исследования нанопокрытий» 18 мая 2016 г.
|
18 мая 2016 |
Просмотров: 2164
|
|
Семинар “Атомно-зондовая томография и масс-спектрометрия вторичных ионов в исследовании наноразмерных систем”, 19 мая 2016 г.
|
19 мая 2016 |
Просмотров: 1221
|
|
Семинар «Измерение размеров частиц методом лазерной дифракции» 09.2016 / Анонс
|
12 сентября 2015 |
Просмотров: 1087
|
|
Семинар «Современные направления развития аналитического оборудования», 22 июня 2016 г.
|
22 июня 2015 |
Просмотров: 1148
|
|
Семинар «Измерение размеров частиц методом лазерной дифракции»
|
19 сентября 2015 |
Просмотров: 1404
|
