 |
 |
 |
 |
19 мая 2016 г. в конференц-зале Дальневосточного геологического института ДВО РАН состоялся научно-практический семинар "Атомно-зондовая томография и масс-спектрометрия вторичных ионов в исследовании наноразмерных систем". Семинар ставил перед собой задачу продемонстрировать участникам возможности элементного и изотопоного нано- и микроанализа с использованием оборудования CAMECA. Приглашенными лекторами выступили: специалист по атомно-зондовой томографии Peter Clifton (CAMECA USA) и Philippe Saliot (CAMECA FRANCE) - специалист в области масс-спектрометрии вторичных ионов. Представленные модели приборов LEAP 5000 (атомно-зондовый томограф) и NanoSIMS 50L (ВИМС) являются новыми для России, что дало возможность слушателям ознакомится с последними достижениями в рассмотренных видах исследований.