 |
 |
 |
 |
29 марта в ДВГИ ДВО РАН состоялся научный семинар. Младший научный сотрудник лаборатории микро и наноисследований Бушкарева Ксения Юрьевна представила доклад на тему: "Опыт применения аналитической сканирующей микроскопии в геологии".
В своем сообщении докладчик рассмотрел возможности сканирующей электронной микроскопии при решении сложных исследовательских задач. Освещены два основных направления электронной микроскопии: сканирующая (растровая, СЭМ) и просвечивающая (трансмиссионная, ПЭМ), которые дают различную информацию (морфология, размер, состав и другие особенности) об объекте исследования и помогают решить различные задачи широкого круга. Приведен обзор дополнительных устройств для пробоподготовки препаратов. Представлена широкая база медиафайлов, которые получены при изучении образцов различного размера и состава (макро-, микро- и наноразмерных неорганических и органических). В заключении докладчик рассмотрел преимущества аналитической сканирующей микроскопии для различных разделов геологической науки.